广泛的器件支持

• 支持 Hynix、Intel Micron、Samsung、ST、Toshiba
• 支持 Winbond、Macronix、Cypress(Spansion)、ONFI
• 支持 Dosilicon、ESMT、Zetta、GD
• 支持定制（Customized Available）

多种探针 Tip 选择

• LA08-tip：8 Data 通道
• LA09-tip：8 Data + 1 CLK 通道
• NAND-tip：4 Data + 2 Analog 通道
• 适配不同封装与测量需求

NAND-tip 混合采集

• 4 路 Data 数字通道
• 2 路 Analog 模拟通道
• 数字与模拟同步采集
• 完整还原总线波形

高精度触发与输入

• 触发电平范围 -0.5 V ~ +4.8 V
• 分辨率 21 mV、精度 ±100 mV + 5% × Vth
• 输入阻抗 1 MΩ || 5 pF / 1 MΩ || 100 pF
• 最大非破坏性输入 ±15 V

多厂商 NAND 协议解码

支持主流 NAND 厂商器件的触发、协议与解码，以表格方式显示协议封包数据并包含指令解析，便于逐字段查看通信内容。

丰富探针配置

提供 LA08、LA09、NAND 三种 Tip，覆盖不同的数据通道数、时钟通道与模拟通道需求，可根据待测器件封装与测量目标灵活选择。

数字与模拟同步分析

NAND-tip 可同时采集 4 路 Data 数字通道与 2 路 Analog 模拟通道，便于将数字命令与模拟电源/信号相关联，全面分析总线行为。

高精度触发电平

Data 通道触发电平范围 -0.5 V ~ +4.8 V，分辨率 21 mV、精度 ±100 mV + 5% × Vth，确保不同电平标准的 NAND 器件都能可靠触发。

强健输入保护

Data 通道最大非破坏性输入达 ±15 V（DC+AC peak），工作范围 -1 V ~ 8 V、灵敏度约 300 mV，兼顾宽范围测量与器件安全。

模拟通道精细采样

Analog 通道工作范围 0 V ~ 4 V、分辨率约 1 mV，采样率 1 M、阻抗 1 MΩ || 100 pF，可精细记录 NAND 器件的模拟信号细节。