SD3.0/SDIO3.0

• 支持 SD 3.0 SDR104 / SD6.0 Legacy mode SDR104, DDR200, Command Queue/ SDIO 3.0
• LA04 (B)-tip: 4 Data Channel
• SD3.0(SDIO 3.0)-tip: 12 Data Channel + 2 Analog Channel
• Auto Data Phase Tuning
• 3 Pin Mode: CMD, CLK, D0
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    SD3.0 / SDIO3.0 协议分析仪

    SD3.0/SDIO3.0 是依附于 BusFinder 协议分析仪主机的 SD / eMMC 存储卡协议分析方案,用于分析与调试 SD6.0 Legacy 模式、SD3.0 与 SDIO3.0 接口。方案支持 SDR12 / SDR25 / SDR50 / SDR104、DDR50、DDR200 等速率以及 Command Queue,提供 LA04(B) 与 SD3.0(SDIO3.0)转接板,可完整记录待测设备从低速初始化到高速传输数据的过程,并具备 Auto Data Phase Tuning、3-Pin 与 No-Clk 等便捷测量模式。

    核心性能指标

    多标准 SD / eMMC 分析

    • 支持 SD6.0 Legacy / SD3.0 / SDIO3.0
    • 支持 SDR12/25/50/104、DDR50、DDR200
    • 支持 Command Queue
    • 覆盖主流存储卡与 eMMC 接口

    灵活通道与转接板

    • LA04(B)-tip:4 Data 通道
    • SD3.0(SDIO3.0)-tip:12 Data + 2 Analog 通道
    • BusFinder 三类转接板可选
    • 适配不同待测物

    便捷测量模式

    • 3-Pin 模式:CLK/CMD/D0 即可测 CMD
    • No-Clk 模式:长时记录 CMD 波形并解码
    • Auto Data Phase Tuning
    • 简化接线、聚焦关键信号

    智能过滤、检索与校验

    • Data Filter 滤除不必要数据
    • Search 数据检索
    • CRC 封包计算与错误显示
    • 节省内存、保障完整性

    关键技术特性

    多模式协议解码

    支持测量 SD6.0 Legacy 模式、SD3.0 与 SDIO3.0 的触发、协议与解码,以表格方式显示协议封包数据并包含指令解析,便于逐字段查看通信内容。

    完整记录启动全过程

    可完整记录待测设备从低速初始化到高速传输数据的过程,确保关键速率切换阶段不丢失,便于分析链路训练。

    三引脚与无时钟模式

    3-Pin 模式仅需连接 CLK、CMD、D0 即可测量 CMD 数据;No-Clk 模式可长时间记录 CMD 引脚波形并解码,适合仅需 CMD 数据的场景,简化测量流程。

    命令统计与触发

    提供 SD6.0 Legacy / SD3.0 命令统计(封包总数、各类指令数量、错误数量)与命令触发功能,并支持 SD6.0 Legacy Command Queue,加速问题定位。

    数据过滤、检索与 CRC 校验

    提供 Data Filter 滤除不必要数据以节省内存,提供 Search 检索,以及 CRC 封包计算与错误显示,保障数据传输的完整性。

    自动相位调谐与转接板

    具备 Auto Data Phase Tuning 自动数据相位调谐,并配合 BusFinder 三类转接板,可根据待测物灵活选用,降低接线与调试难度。

    技术参数规格

    参数类别 规格详情
    方案类型 BusFinder 协议分析仪主机 + SD3.0/SDIO3.0 方案
    协议支持 SD6.0 Legacy / SD3.0 / SDIO3.0
    支持速率 SDR12、SDR25、SDR50、SDR104、DDR50、DDR200
    特殊功能 Command Queue、Auto Data Phase Tuning
    Tip 类型 LA04 (B) / eMMC, SD 3.0 转接板
    通道组合(LA04 (B)) 4 Data(数据通道)
    通道组合(SD3.0/SDIO3.0) 12 + 2(Data + Analog)
    测量模式 3-Pin 模式(CLK/CMD/D0)、No-Clk 模式
    触发电平(Data)范围 -0.5 V ~ +4.8 V / 0 V ~ +3.3 V
    触发电平(Data)分辨率 21 mV
    触发电平(Data)精度 ±100 mV + 5% × Vth
    输入电平(Data)最大非破坏性输入 ±15 V(DC+AC peak)/ -0.5 V ~ +5 V(DC+AC peak)
    输入电平(Data)工作范围 -1 V ~ 8 V / 0 V ~ 3.3 V
    输入电平(Data)灵敏度 ~300 mV / ~150 mV
    输入阻抗(Data) 1 MΩ || 5 pF / 500 kΩ || 2 pF
    输入电平(Analog)最大非破坏性输入 — / -0.5 V ~ +8 V(DC+AC peak)
    输入电平(Analog)工作范围 — / 0 V ~ 4 V
    输入电平(Analog)分辨率 — / ~1 mV
    输入电平(Analog)采样率 — / 1 M
    输入阻抗(Analog) — / 1 MΩ || 100 pF
    记录能力 完整记录低速初始化到高速传输全过程
    分析功能 Data Filter、Search、CRC 封包计算与错误显示、命令统计、命令触发