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FLIR X6980 SLS 科研级高速 LWIR 热像仪
FLIR X6980 SLS 是一款超快的高灵敏度 640 × 512 分辨率长波红外热像仪,专门面向科学家和工程师而设计。借助它,用户可以捕捉到快速事件的细节图像,以便进行准确的红外分析,自定义测量辐射指标,检测复合材料、太阳能电池和电子产品里的失效点。在极高速冲击试验或其他材料研究中,该工具也非常有用,可以用于应力场热分布图。
核心性能指标
高速、高灵敏度
- 640 × 512 像素全分辨率数据采集帧速可达 1004 Hz
- 子窗口模式下帧速可达 29,134 Hz
- 积分时间比 MWIR InSb 热像仪短 10 倍
- 在更宽动态范围内检测低至 40 mK 的温差
机载 RAM/SSD 记录功能
- 以 1 kHz 频率保存多达 26,000 帧数据至机载 RAM,零丢帧
- 以 800 Hz 频率记录长达 15 分钟数据至 512 GB SSD
- 通过 GigE、Camera Link 或 CoaXPress 远程回放或传输
- 采用热插拔 SSD,可快速从热像仪中删除敏感数据
同步与触发
- 使用外部记录触发器或特定 IRIG-B 时间启动记录
- 精准控制图像帧生成或输出同步信号至其他设备
- 使用 TSPI 精确 IRIG-B 时间戳,保持数据时间一致
- 轻松与外部事件或仪器仪表同步,捕捉必要图像
高级过滤与软件支持
- 配备四位电动暖色滤镜轮,可快速切换滤镜
- 搭载自动滤镜识别功能,确保校准关联正确无误
- 支持 Windows、MacOS 和 Linux 多个软件平台
- 通过 FLIR Research Studio 和 SDK 进行高级分析与集成
关键技术特性
SLS LWIR 高清探测器
搭载先进的应变层超晶格 (SLS) 长波红外探测器,拥有更快的快照速度和更宽的温度范围。相比其他冷却型探测器,它能够在更宽的动态范围内检测低至 40 mK 的温差,帮助研究人员准确捕捉高速事件中的动态细节。
超短积分时间与极速采集
在环境温度成像应用中,其积分时间比 MWIR InSb 热像仪短 10 倍,最小积分时间可达 270 ns。配合最高 29,134 Hz 的子窗口帧率,能够轻松把控高速事件,捕捉锐利的红外图像。
机载零丢帧记录
内置 16 GB RAM 和 512 GB SSD(兼容 4 TB)。可将多达 26,000 帧的全分辨率数据直接保存至 RAM 内存实现零丢帧,或以 800 Hz 帧率将 640×512 数据长时间记录至 SSD,确保关键高速数据不丢失。
精确 IRIG-B 时间戳
支持内部精确时间戳、IRIG-B AM 解码器以及 TSPI 精准时间戳。用户可使用外部记录触发器或在特定 IRIG-B 时间启动机载数据记录,使图像捕捉时间与其他测试数据保持高度一致,便于多传感器数据融合分析。
四位电动暖色滤镜轮
集成了四位电动暖色滤镜轮,用户可轻松在现场安装或拆除光谱或中性密度滤镜,大幅提升热像仪灵活性。自动滤镜识别功能确保滤镜和校准方案关联正确无误。
多接口与多平台软件集成
同时支持千兆以太网、Camera Link、CoaXPress 1.1、HDMI 及 SDI 等多种数据输出接口。兼容 FLIR Research Studio 软件,支持跨平台操作,并可通过 Science Camera SDK 将功能与第三方软件深度集成。
技术参数规格
参数类别 规格详情 探测器类型 应变层超晶格 (SLS) 分辨率 640 × 512 像元间距 25 µm 波长范围 7.5 µm(下),11.5-12.5 µm(上) 热灵敏度/NETD 40 mK(典型值) 帧率 (满屏) 可编程;0.0015 Hz - 1004 Hz 子窗口最大帧速 29,134 Hz 最小积分时间 270 ns 机载存储 16 GB RAM, 512 GB SSD (兼容 4 TB) 数据输出接口 GigE Vision, Camera Link, CoaXPress 1.1, HDMI, SDI 标准温度范围 –20°C 到 350°C (可选最高至 3,000°C) 精度 ≤100°C: ±2°C; >100°C: 读数的 ±2% 工作温度范围 –20°C 到 50°C 尺寸 (长×宽×高) 249 × 157 × 147 mm (不含镜头或手柄) 重量 (含手柄,不含镜头) 6.35 kg 产品资料下载
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