AQ7420系列高分辨率反射率仪

与基于 OFDR 的光学后向散射反射仪或 OCWR 技术相比,AQ7420 能够提供更清晰、无杂波的波形,因此非常适合高精度检测需求。这些特性在需要对长时间处于高温环境中的部件进行可靠性测试时尤为有用,因为这些部件的潜在缺陷可能导致设备过早失效。如果再配合可选的传感器头单元使用,该设备还能同时测量插入损耗,从而为研发和生产环境提供全方位的解决方案。
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  • 横河 AQ7420系列 高分辨率反射仪

    AQ7420系列高分辨率反射仪提供行业领先的光学解决方案,具备无杂散噪声、高分辨率和超高灵敏度特性。可检测低至-100dB的微弱反射,支持同步双波长回波损耗(RL)和插入损耗(IL)测量,旨在从研发到生产的过程中为用户提供全面支持,显著提高产品质量与可靠性。

    核心性能指标

    无杂散与高分辨率呈现

    • 大幅消除杂散噪声(鬼影),生成纯净测量结果
    • 高分辨率和宽动态范围协同呈现锐利波形
    • 以微米级分辨率精确分离相邻峰值
    • 在强信号附近有效检测微弱反射

    超高灵敏度与微裂纹检测

    • 灵敏度低至-100dB,捕捉极微弱反射
    • 相较上一代灵敏度提高约1000倍
    • 高灵敏度的波形分析保证长期可靠性
    • 有效识别先前不可见的微小缺陷和微裂纹

    同步双波长与高效测量

    • 仅需10秒即可实现双波长回波损耗测量
    • 配合传感器头单次操作同时评估RL和IL
    • 无需重新连接,显著缩短单件测试时间
    • 节省实验室空间,优化产线测试流程

    可扩展测量系统与长距离

    • 配合多路切换单元可自动检测多达24芯光纤
    • 实现多光纤和光器件的高效检测与分析
    • 搭配扩展单元可将测量距离扩展至8米(仅AQ7421)
    • 支持在更大检测范围内精确进行故障定位

    关键技术特性

    无杂散波形呈现

    通过大幅消除由器件特定特性引起的伪反射波形(杂散噪声/鬼影),反射仪可生成纯净的测量结果。这加快了研发分析速度,并优化了生产中的缺陷检测过程,直接提高了整体测试效率。

    锐利波形与高分辨率

    高分辨率与宽动态范围协同作用,呈现极为锐利的波形。能够在强反射信号附近有效检测出微弱反射,确保分析结果绝对可靠,以微米级分辨率精确分离相邻峰值。

    同步波长RL与IL测量

    通过组合 AQ7420/AQ7421 与 AQ740023 传感器头,用户可使用单个系统同时自动测量两个波长的回波损耗和插入损耗。可明确区分合格品与缺陷品,控制软件还能生成检测报告以优化质量管理。

    可扩展的多通道测量系统

    与 AQ740027 多路切换单元配合使用时,可自动测量多达24芯光纤,无需手动重新连接或切换,只需按一个按钮即可测试多个端口。同时兼容 MPO、MT 等多种连接器配件,确保测试设置的灵活性。

    光器件内部反射与损耗分析

    以高空间分辨率和无杂散噪声特性,精确识别光器件内部的部件位置并测量其边缘产生的反射光。对于波导,可直接通过回波损耗分布斜率计算传播损耗,以更低成本和更短时间实现精确分析。

    长测试距离的故障定位

    AQ7421 搭配 AQ740051 扩展单元,测量范围可扩展至8米。此功能可对长度超过1米但尚不适用于长距离 OTDR 测试的短光纤组件和集成光子器件进行精确的故障定位和检测分析。

    技术参数规格

    参数类别 规格详情
    型号 AQ7420, AQ7421
    测量波长 1310nm, 1550nm (可选单波长或双波长组合)
    测量距离范围 AQ7420: 100mm;AQ7421: 1000mm (可扩展至8米)
    距离采样分辨率 1、4、8 μm
    空间分辨率 ≤40 μm
    背反射测量范围 正常范围: ‒14.7 ~ ‒85dB (或-80dB);高灵敏度范围: ‒50 ~ ‒100dB
    杂散噪声 正常范围: ≤‒85dB / ≤‒80dB;高灵敏度范围: ≤‒100dB
    距离测量重复性 ≤50 μm
    测量时间 AQ7420: 约6秒;AQ7421: 约13秒
    适用光纤 SMF (ITU-T G.652)
    整机尺寸 AQ7420: 430×132×350mm;AQ7421: 430×187×492mm (宽×高×深,不含保护套)
    整机重量 AQ7420: 约8kg;AQ7421: 约22kg
    供电规格 100 ~ 240VAC,50/60Hz,≤120VA (AC适配器)

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