高效与光电融合

• 单台机架内自由组合模块，精确适配测量对象
• 单台机架内实现电光测量，支持多应用需求
• 每个通道最多可保存100000个点
• 测量结果文件传输时间少于1秒

多通道高密度与同步

• 3槽机架中最多可扩展到6个通道
• 9槽机架中最多18个通道，节省系统空间
• 支持机架内源测量单元与光功率计的通道间同步
• 采用总线连接系统，同步测量无需额外接线

灵活的触发与控制

• 支持内部触发和外部触发等多种同步方法
• 可通过数字I/O接口连接外部设备发送和接收信号
• 机架内内部触发信号或外部触发信号可连接到每个通道
• 支持在电压或电流设置完成后输出触发到其他通道

丰富的模块系列

• 光源 (LS)：DFB-LD及ASE光源
• 光功率测量 (OPM)：多种功率计及探头
• 光衰减 (VOA)：含/不含光输出监测功能
• 电源&高精度测量 (SMU)：源测量单元及光路切换

机架内模块间同步功能

系统具备强大的机架内模块间同步功能，包括源测量单元(SMU)和光功率计(OPM)间同步，以及SMU通道间同步。无需复杂接线即可选择多个需要同步的通道执行扫描测量，极大简化了系统搭建难度。

大容量高速数据传输

具有更强的数据传输速度和存储容量。扫描测量中每个通道最多可保存100,000个点，记录和稳定性功能最多可保存1,000,000个点。测量结果文件传输时间少于1秒，显著提升测试吞吐量。

全面的应用支持

支持扫描测量(I-V、I-L)、短期光功率记录、长期稳定性测量(最长99天)。还可通过USB显示光纤端面检测仪的连接器端面图像，并内置网络服务器功能，允许通过PC进行远程操作。

数字I/O外部控制接口

机架外部控制接口可配备数字I/O接口，接收来自外部设备的运行启动信号，发送运行结束信号。在不同模块中，源测量单元均支持此功能，方便集成到更大的自动化测试系统中。

源测量单元 (SMU) 引入

在模块系列中引入了双通道源测量单元 (AQ23811A)，提供±6V/±600mA的输出能力。具备DC和脉冲输出波形，支持线性、对数和程序扫描模式，满足半导体器件的高精度测量需求。

丰富的模块化配置

提供光源、光功率计、可变光衰减器、光开关及源测量单元等多类模块。用户可根据具体的测试需求（如激光二极管模块特性测量、光收发器测量、光无源器件损耗测量等）灵活选配。