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DDR5 内存条高速测试仪（双槽）KT-5MA-2L

DDR5 ATE/SLT UDIMM Tester
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  • KT-5MA-2L DDR5 UDIMM 高速高性能测试仪

    KT-5MA-2L DDR5 UDIMM 高速高性能测试仪

    KT-5MA-2L 是一款专为 DDR5 UDIMM内存条而设计的高速、高性能测试仪，结合 ATE（自动化测试设备）逻辑测试 与 SLT（系统级测试） 双模式，为内存测试提供全面支持。

    核心技术亮点

    1、卓越性能

    支持 UDIMM 内存测试频率高达 7 Gbps，轻松应对次世代内存高速需求。

    2、全面覆盖

    DC/AC测试、频率/时序精准测量、SPD读写、功能性测试、信号完整性测试、长期稳定性测试、物理级修复等方面。

    3、精准修复

    具备 PPR（Post Package Repair）修复 功能，可有效修复检测中发现的不良内存条，提高内存利用率和可靠性。

    4、适应多环境

    支持测试温度范围从常温至高达 85°C，也可选配-40℃~125℃三温机柜，在严苛环境下依然保持高精度与稳定性。

    5、广泛兼容

    专为 UDIMM 类型设计，确保设备测试的全面性与一致性。

    核心价值

    1、领先技术

    双模式测试方案结合高速性能，体现内存测试领域的技术前沿。

    2、可靠性保障

    通过严格的性能测试和修复功能，显著提升内存条的工作稳定性。

    3、行业适配性

    面向高性能计算和服务器市场，满足日益复杂的内存测试需求。