DDR4 内存条高速测试仪(ATE + SLT)

DDR4 ATE/SLT Module Tester
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  • 卓越的双模测试架构

    KT-4MG+ Pro 是一款专为 DDR4 内存条高速测试而设计的尖端设备,集成 ATE(自动化测试设备)逻辑测试 和 SLT(系统级测试) 双模式,提供全面的内存质量检测能力。

    核心能力

    1、高速性能

    支持测试频率高达 3.2Gbps,能够快速精准定位内存缺陷并进行 PPR(Post Package Repair)修复,显著提高内存条的可靠性。

    2、全面覆盖

    DC/AC测试、频率/时序精准测量、SPD读写、功能性测试、信号完整性测试、长期稳定性测试、物理级修复等方面。

    3、广泛适配

    兼容多种 DDR4 DIMM 标准规格,包括 UDIMM、RDIMM、SODIMM、LRDIMM 和 NVDIMM,满足不同应用场景的需求。

    4、极端环境支持

    测试温度范围从常温到高达 85°C,也可选配-40℃~125℃三温机柜,确保内存在极端条件下的稳定性和准确性。

    核心价值

    1、高效解决方案

    具备独特的内存高品质分级筛选能力,通过精准检测和修复功能,帮助客户提升内存质量,同时保护良率,降低返修率。

    3、可扩展性设计

    系统配置多样,支持从芯片到内存条、从手动到自动、从实验室分析到大规模量产的不同测试需求,提供灵活且全面的测试解决方案,投资更具性价比。

    3、精密制造

    代表了内存测试技术领域的领先水平,体现我们对质量的极致追求。