通道与显示配置

• 提供单通道/双通道两大系列，共7款细分型号可选
• 7英寸电容式触摸彩色LCD，分辨率800×480
• 搭载Linux操作系统，触控+旋钮双操作方式
• 支持二线制与四线制(Kelvin)测量连接
• 内置仪器自检与温度监控功能，运行状态可视化

源输出能力

• 四象限精密电源输出，支持源载双向工作
• 最高电压：±210V直流；TH1991C为±63V
• 最大直流电流：±3.03A；脉冲电流最高±10.5A
• 源输出分辨率最高10fA/100nV，达6½位水准
• 输出滤波器时间常数可自由设置，适配不同负载

测量性能参数

• 测量位数最高6½位，电压分辨率100nV，电流分辨率10fA
• 电阻测量范围2Ω~200MΩ，四线测量精度优异
• 支持Delta低电阻测试，有效补偿热电动势误差
• 最小采样间隔1μs，支持高速时域数据采集
• 内置滑动平均滤波、偏差扣除、数学运算功能

波形与系统集成

• 支持直流、脉冲、扫描、列表四种输出模式
• 脉冲最小脉宽50μs，编程分辨率1μs
• 内置二极管、三极管、MOS管、IGBT特性曲线测试
• 14档分选功能，含Grading和Sorting两种模式
• 标配RS232、USB、LAN、HANDLER接口，支持SCPI指令

超高精度源测一体架构

采用四象限精密源设计，单台设备即可同时完成激励施加与信号测量，覆盖电压、电流、电阻、功率多参数测试。最高6½位测量分辨率，电流检测低至10fA，电压分辨达100nV，配合四线制连接与Delta测试模式，可精准表征微弱信号与低阻器件，满足半导体与新材料研究的高精度测试需求。

多模式输出与高速采样

支持直流恒定输出、脉冲输出、线性/对数扫描输出以及列表扫描输出，可生成任意波形，最小脉冲宽度可达50μs，脉冲编程分辨率1μs。采样间隔最小1μs，配合时域滚动显示功能，可完整捕捉器件瞬态响应特性，适配脉冲测试、动态特性表征等高速测量场景。

半导体器件专属测试功能

内置Expert专家测试模式，可一键生成二极管、三极管、场效应管、IGBT等常用半导体器件的特性曲线，支持正向/反向IV测试、脉冲测试等多种模式。图形化界面支持坐标缩放、游标读数、迹线保存与表格导出，无需额外编程即可快速完成器件参数表征。

丰富的数据处理与分选能力

内置数学运算、滑动平均滤波、相对偏差扣除等数据处理功能，可直接对测量结果进行修正与换算。提供14档分选功能，支持分级模式与排序模式，可自定义上下限与输出引脚逻辑，适配产线自动化分选场景；测试结果支持图形与表格双模式展示，可直接保存至U盘。

灵活的触发与定时系统

支持ARM与FPGA双层触发架构，提供内部定时、手动触发、总线触发与外部Handler触发多种触发源。触发延迟、周期、计数均可编程设置，定时器精度达±50ppm，可实现多设备同步与精准时序控制。Handler接口支持14路数字IO，可灵活配置为触发输入/输出与状态输出。

完备的接口与上位机生态

标配RS232、USB HOST/DEVICE、LAN、HANDLER接口，支持SCPI标准指令集，可快速接入自动化测试系统。标配上位机软件TonghuiExpert，支持电脑端远程控制、数据采集与波形分析。设备支持高电容负载模式，可适配容性器件测试，同时具备过压、过流、过温多重保护机制。