测量性能与速度

• 基本测量精度：0.05%
• 双CPU架构，最快测试速度：0.56ms（约1800次/秒）
• 14档精细量程配置，全范围测试稳定一致
• 支持30Ω、100Ω两档可选输出阻抗
• 支持开路、短路、负载三级校准

频率与信号配置

• TH2840A：20Hz ~ 500kHz测试频率范围
• TH2840B：20Hz ~ 2MHz测试频率范围
• AC测试电平：5mVrms ~ 20Vrms宽范围输出
• 内置DC偏置：0V ~ ±40V / 0mA ~ ±100mA
• 标配内置2A直流偏流源，DCR测试电平最高20V

显示与扫描能力

• 10.1英寸1280×800电容式触摸屏，Linux操作系统
• 四参数同屏显示，参数任意选择组合
• 201点多参数列表扫描，每点可独立分选
• 图形化扫描功能，4轨迹任意选择，支持1/2/4分屏
• 支持点测、列表扫描、图形扫描三种测试模式

接口与扩展能力

• 标配RS232、USB HOST、USB DEVICE、HANDLER、LAN、SCANNER接口
• 支持SCPI、MODBUS指令集，兼容国际主流品牌
• 可外接最多6台TH1778系列偏流源，最大偏流达120A
• 内置大容量存储，支持U盘扩展存储设定与数据
• 支持键盘、鼠标外接操作，内置使用说明与帮助

10.1寸大屏四参数同显

采用10.1英寸高清电容触摸屏，1280×800分辨率搭配Linux系统，支持中英文操作界面，操作体验流畅直观。创新四参数同屏显示设计，可同时展示四路测量参数、分选状态、设置信息与监视数据，无需频繁切换菜单，大幅提升测试与调试效率。

双CPU架构超高速测试

创新性采用双CPU分工架构，一颗CPU专职负责测试数据运算，另一颗负责界面显示与系统交互，实现最高约1800次/秒的测试速度，单次测量快至0.56ms。不仅大幅提升自动化产线产出效率，更能捕捉器件参数的瞬态变化过程，满足动态响应时间测试等特殊需求。

高功率大偏置硬件配置

硬件配置全面升级：AC测试电平最高可达20Vrms/100mA，C-V特性测试范围更广；内置±40V/100mA直流偏置源，覆盖高电压偏置测试场景；标配2A内置偏流源，可直接完成中小功率电感的直流叠加测试。DCR测试电平最高20V，大电感测量更快速稳定。

增强型扫描分析能力

支持201点列表扫描，每个扫描点可独立设置频率、电平、偏置、功能与延时，每点均可独立分选判定。图形化扫描支持最多801个测试点，可选择4条参数轨迹，支持单屏/双屏/四分屏显示，坐标可切换对数/线性模式，直观呈现器件特性变化曲线。

可视化分选与接口配置

内置10档分选功能，每档可设置四个参数的极限范围，标称值与参考值合并设置，操作更简洁。HANDLER接口实现全可视化配置，脚位定义、输入输出方式、信号逻辑、应答模式均可在界面直观设置，大幅降低自动化系统对接调试难度。

智能运维与生态兼容

支持智能固件升级，可自动检索本地、U盘与局域网内升级包，一键完成更新，无需返厂。支持SCPI与MODBUS标准指令集，兼容国际主流品牌指令，老设备升级替换成本低。配备丰富测试夹具配件，覆盖无源元件、半导体、介质材料、磁性材料等多领域测试需求。