测量性能与精度

• 基本测量精度：0.1%
• 最快测试速度：5ms（频率>30kHz时）
• 支持10Ω、30Ω、50Ω、100Ω四档信号源输出阻抗
• 具备ALC自动电平控制功能，测试电平稳定精准
• 支持开路、短路、负载三级校准

频率与信号配置

• TH2826：20Hz ~ 5MHz，10mHz步进分辨率
• TH2826A：20Hz ~ 2MHz，10mHz步进分辨率
• AC测试电平：10mVrms ~ 5Vrms，1mV步进可调
• 内置DC偏置：0V ~ ±5V / 0mA ~ ±100mA
• 支持外接直流偏置，最大偏流可达40A

扫描与分析能力

• 10点多参数列表扫描，支持频率、电平、偏置多维度测试
• 图形化扫描功能，支持51/101/201/401/801点可选
• 扫描图形可存储于内部FLASH、外部U盘或上传上位机
• 10档元件分选，支持PASS/FAIL指示与档计数功能
• 支持数据保存、一键截屏，测试结果可追溯

接口与扩展能力

• 符合LXI标准，标配LAN网口，支持远程网络测控
• 标配RS232、USB HOST、USB DEVICE、HANDLER接口
• 可选配GPIB接口，适配各类工业测控场景
• 内置20组仪器设定文件，支持U盘扩展存储
• 支持0m、1m测试电缆，2m/4m电缆可选配

符合LXI标准的网络测控

产品符合LXI仪器标准，标配LAN以太网接口，支持网络远程控制与数据传输，可便捷组建分布式自动化测试系统。相比传统总线仪器，部署更灵活、扩展更方便，能够很好地适配现代化产线与实验室的网络化测试管理需求。

宽频高电平灵活配置

覆盖20Hz低频至5MHz高频的宽测试范围，10mHz精细步进可精准匹配器件工作频点。支持10mV~5V宽范围交流测试电平输出，搭配四档可选信号源内阻，能够模拟不同实际工作条件，满足各类无源元件、半导体器件的差异化测试需求。

高速测试适配量产场景

优化的测试架构实现高速测量，30kHz以上频段最快测试速度可达5ms，1kHz以上可达10ms，能够充分满足高速自动化产线的节拍要求。同时提供中速、慢速模式，用户可根据精度需求灵活切换，在测试效率与测量精度间取得最优平衡。

多模式扫描特性分析

提供10点列表扫描与图形化扫描两种分析模式：列表扫描可快速完成多条件合格判定；图形化扫描支持最多801个测试点，可对频率、交流电平、直流偏置等参数进行连续扫描，直观呈现器件特性变化曲线，扫描结果可本地存储或上传上位机做进一步分析。

完善的分选与自动化适配

内置10档比较器分选功能，支持PASS/FAIL指示灯与声音报警，搭配档计数统计功能，可直观掌握批次产品的分档分布。标配HANDLER分选接口，可直接对接自动化分选设备；丰富的通讯接口支持SCPI指令编程，能够无缝集成到各类自动化测试系统中。

全场景器件与材料覆盖

可广泛应用于多个领域：无源元件的高频阻抗参数评估、半导体器件的寄生参数与C-V特性分析、印制电路板与线缆的阻抗测试、塑料/陶瓷等介质材料的介电常数与损耗测试、铁氧体等磁性材料的导磁率与损耗角测量，以及液晶材料的C-V特性分析等。