半导体设计和制造 – 泰克半导体测试方案

泰克及旗下吉时利品牌，提供从晶元到系统的专业半导体测试方案。包括半导体材料测试平台、半导体工艺测试平台、芯片设计测试平台、芯片验证测试平台等。

半导体材料测试平台包括：
针对晶元级半导体材料或半导体器件，泰克提供半导体参数分析仪（4200A-SCS），用于测试分离器件、材料的三大特性：1、直流特性，如IV曲线、IT曲线、VT曲线、RT曲线等； 2、电容电压特性CV曲线（CVU）；3脉冲特性测试(PMU)，支持超高速脉冲测试。支持以上特性的多通道同步测试。针对高功率半导体材料或半导体器件，泰克提供高功率晶体管参数曲线图示仪（2600B-PCT），或称晶体管曲线追踪仪，支持高压、高流等条件下直流特性IV曲线、电容电压特性CV曲线测试。

半导体工艺测试平台包括：
针对大规模测试，如晶元上多点测试，复杂系统的自动化测试，泰克提供自动化半导体参数测试系统（S500/S530/S540），支持各类晶元Wafer和MEMS的自动化、半自动化参数测试。广泛用于晶元的失效分析测试（FA）,质量控制测试（QA），可靠性分析测试（RA）。其中S540支持高压功率半导体自动化参数测试。

芯片设计测试平台包括：
针对高速串行芯片设计，泰克提供完整的发送端测试解决方案，配备高带宽实时示波器、各种探头、一致性测试夹具、一致性测试软件等，支持的标准覆盖各类常用标准，包括：PCIE/DDR/USB/ETH等等。

芯片验证测试平台包括：
针对高速串行芯片设计，泰克提供完整的接收端容限测试解决方案，配备高速误码率分析仪，及一致性测试夹具、一致性测试软件等，支持的标准覆盖各类常用标准。

MSO6系列示波器